1. Diagnosis and troubleshooting of automotive electrical, electronic, and computer systems /
پدیدآورنده : James D. Halderman
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Automobiles-- Electric equipment-- Maintenance and repair,Automobiles-- Electronic equipment-- Maintenance and repair
رده :
TL272
.
H223
2012
2. ESD :
پدیدآورنده : Steven H. Voldman
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Electric discharges,Electrostatics,Integrated circuits-- Protection,Integrated circuits-- Reliability,Integrated circuits-- Testing,Semiconductors-- Failures
رده :
TK7871
.
852
.
V65
2009
3. Electrical overstress (EOS) :
پدیدآورنده : Steven H. Voldman
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Overvoltage.,Semiconductors-- Failures.,Semiconductors-- Protection.,Transients (Electricity)
رده :
TK7871
.
852
4. Electromigration and electronic device degradation
پدیدآورنده : edited by Aris Christou
موضوع : Integrated circuits - Deterioration,Semiconductors - Failures,Electrodiffusion
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
5. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
6. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
7. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده : Amerasekera, E.A.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Failures ، Semiconductors
رده :
TK
7871
.
85
.
A49
1987
8. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده : Amerasekera, E. A.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : ، Semiconductors - Failures
رده :
TK
7871
.
852
.
A47
1997
9. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده : E.A. Amerasekera and D.S. Campbell
موضوع : Semiconductors - Failures
۴ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
10. Failure modes and mechanisms in electronic packages
پدیدآورنده : Viswnadham, Puligandla
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Electrical packaging-- Defects,، Semiconductors-- Failures
رده :
TK
7870
.
15
.
V57
1997
11. Failure modes and mechanisms in electronic packages
پدیدآورنده : Viswanadham, Puligandla.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Defects ، Electronic packaging,Failures ، Semiconductors
رده :
TK
7870
.
15
.
V57
1998
12. Integrated circuit failure analysis: a guide to preparation techniques
پدیدآورنده : Beck, Friedrich
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Semiconductors- Failures,، Semiconductors_ Testing
رده :
TK
7871
.
852
.
B43
13. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده : Osamu Ueda
موضوع : Gallium aresnide semiconductors - Reliability,Semiconductors - Failures,Light emitting diodes - Reliability,Crystals - Defects
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
14. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده : Ueda, Osamu
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Gallium arsenide semiconductors - Reliability , Semiconductors - Failures , Light emitting diodes - Reliability , Crystals - Defects
رده :
TK
7871
.
85
.
U33
1996
15. Semiconductor device and failure analysis using photon microscopy
پدیدآورنده : / by Wai Kin Chim
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors- Failures,Semiconductors- Testing,Semiconductors- Microscopy,Photon emission
رده :
TK7871
.
85
.
C47
2000
16. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
پدیدآورنده : / B.P. Richards and P.K. Footner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)
موضوع : Semiconductors-- Testings,Semiconductors- Failures,Microscops and microscopy
رده :
621
.
381520287
R514r
17. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
پدیدآورنده : Richards, B. P.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Semiconductors - Testing , Semiconductors - Failures , Microscopes
رده :
TK
7871
.
85
.
R464
18. 42 V-PowerNets
پدیدآورنده : edited by Hennig Wallentowitz, Christian Amsel.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Electronics.,Engineering.,Production of electric energy or power.
19. Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits /
پدیدآورنده : Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Digital.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Microelectronics.
رده :
TK7874
.
B35
2010
20. Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty
پدیدآورنده : Bahukudumbi, Sudarshan.
کتابخانه: کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی آیت الله ایمانی دانشگاه سلمان فارسی (فارس)
موضوع : Integrated circuits, Testing,Integrated circuits, Wafer-scale integration,Semiconductors, Testing
رده :
TK
7874
.
B22W3
2010
